當氣密性檢漏儀測試完成后，排出產(chǎn)品內(nèi)部的氣體將產(chǎn)品和密封工裝上的部分溫度帶走。

若立即用氣密性檢漏儀對同一產(chǎn)品進行二次試驗，會出現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部氣體溫度先降后穩(wěn)壓后回復升高的狀態(tài)，這會導致在測試階段內(nèi)腔內(nèi)壓力有微小上升的狀態(tài)，將抵消部分原有的泄漏量。

在對同一產(chǎn)品進行重復測試時，兩個測試之間需要有足夠的時間間隔，以使產(chǎn)品回復到正常測試狀態(tài)，每一個測試間隔時間是一致的。當使用氣密性檢漏儀進行重復測試時，可以選擇多個產(chǎn)品循環(huán)測試的方式。

在真空環(huán)境中，不受溫度變化的影響？試驗誤差隨試驗壓力的加大而加大。試驗壓力越接近真空，誤差越小。

如果實際溫度是穩(wěn)定的，則不同的溫度環(huán)境對試驗結(jié)果的影響不大，例如溫度環(huán)境差5℃之間的差異大約在5/(273+20)=1.7%。而且如果在測試過程中發(fā)生溫度變化，對測試結(jié)果有很大的影響！

氣體分子在充氣過程中摩擦產(chǎn)生熱量，根據(jù)氣體方程式PV=NRT，可知會使試驗腔內(nèi)壓力升高，當充氣結(jié)束時溫度又會慢慢恢復到正常的室溫，所以充氣結(jié)束后的穩(wěn)定壓時間如果不夠充分，即到測試階段腔體內(nèi)部溫度仍處于下降的回復期，則由此導致的壓力下降將直接反映到氣密性檢漏儀所測試的泄漏量中。

具有較高溫度的工件在進行測試時，會對充氣進行較長時間的加熱，在測試過程中產(chǎn)品內(nèi)部的氣壓不會下降反升，測試結(jié)果為負值。

如果是直接在低溫環(huán)境下進行高溫環(huán)境試驗的產(chǎn)品，氣密性檢漏儀因溫度和測試時間的不同，可能會出現(xiàn)泄漏量變大的情況，也可能出現(xiàn)不同的測試負值現(xiàn)象。

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